Резидент ОЭЗ Технополис Москва100% локализация в РФ

Система поддержки маршрута контролируемого проектирования для испытаний и сертификации готовых СБИС

Сравнение компьютерной модели топологии кристалла (GDS) с послойными фотографиями кристалла после изготовления

Функциональные возможности ПО "Золотой Чип":

  • Удаление шума на изображениях
  • Кластеризация цветов
  • Удаление артефактов
  • Бинаризация изображений
  • erode и dilate из OpenCV для “вымывания” мелких деталей
  • 2d FFT для поиска оптимального сдвига
  • Наложение и вычитание изображений для выявления отличий, подсвечивание крупных отличий

Перейти на сайт ПО "Золотой Чип

Документация:

Описание функциональных характеристик ПО - Система поддержки МКП для испытаний и сертификации

Руководство пользователя ПО - Система поддержки МКП для испытаний и сертификации

 

По вопросам приобретения программных модулей обращаться в АО «НПЦ СпецЭлектронСистемы»

+7 (495) 663 21 65, доб. 350

info@zolchip.ru  /  www.zolchip.ru